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题名/责任者:

数字集成电路容错设计:容缺陷/故障、容参数偏差、容软错误/李晓维 ... [等] 著

出版发行项:

北京:科学出版社,2011

ISBN及定价:

978-7-03-030576-3 精装/CNY68.00

载体形态项:

x, 433页:图;25cm

其它题名:

容缺陷故障容参数偏差容软错误

个人责任者:

李晓维 著

个人责任者:

胡瑜 著

个人责任者:

张磊 著

学科主题:

数字集成电路-容错性能-电路设计

中图法分类号:

TN431.202

一般附注:

中国科学院科学出版基金资助出版

题名责任附注:

题名页题: 李晓维, 胡瑜, 张磊, 鄢贵海著

书目附注:

有书目和索引

提要文摘附注:

主要内容涉及数字集成电路容错设计的三个主要方面：容缺陷(和故障)、容参数偏差以及容软错误；包括3S技术(自测试、自诊断、自修复)的基本原理。从嵌入式存储、多核处理器和片上网络三个方面论述了缺陷(故障)容忍方法；从参数偏差容忍的角度，论述了抗老化设计和参数偏差容忍设计方法；从处理器和片上网络两个层次论述了软错误容忍方法；并以国产具有自修复功能的单核及多核处理器为例介绍了相关成果的应用。本书的特点是兼具先进性和实用性，系统性强，体系新颖。

使用对象附注:

集成电路EDA工具开发和应用的科技人员、集成电路与半导体专业高等院校教师、研究生和高年级本科生及相关读者。

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