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题名/责任者:

测试驱动的嵌入式C语言开发/(美) James W.Grenning著 尹哲等

出版发行项:

北京:机械工业出版社,2012.1

ISBN及定价:

978-7-111-36623-2/CNY49.00

载体形态项:

xv, 256页:图;24cm

统一题名:

Test-driven development for embedded C

丛编项:

华章专业开发者丛书

个人责任者:

格伦宁 (Grenning, James W.) 著

个人次要责任者:

尹哲 译

学科主题:

C语言-程序设计

中图法分类号:

TP312C

出版发行附注:

本书中文简体字版由The pragmatic programmers, LLC授权机械工业出版社在全球独家出版发行

责任者附注:

责任者Grenning规范汉译姓: 格伦宁

书目附注:

有书目 (第255-256页)

提要文摘附注:

本书深入介绍如何把测试驱动的开发方法应用于嵌入式C语言开发, 第一部分介绍了两个开源的测试框架, 通过测试驱动开发方法开发第一个模块; 第二部分深入介绍了与系统中其他模块进行交互的代码的测试技术。

使用对象附注:

本书适合嵌入式C /C++语言程序员、工程师阅读

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