MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:6
- 题名/责任者:
- 先进集成电路电磁兼容测试与建模/(法) 亚历山大·博耶, 艾·西加著 吴建飞 ... [等] 译
- 出版发行项:
- 北京:国防工业出版社,2022
- ISBN及定价:
- 978-7-118-12607-5 精装/CNY128.00
- 载体形态项:
- xvi, 314页:图;27cm
- 个人责任者:
- 博耶 (Boyer, Alexandre) 著
- 个人责任者:
- 西加 (Sicard, Etienne) 著
- 个人次要责任者:
- 吴建飞 译
- 个人次要责任者:
- 李彬鸿 译
- 学科主题:
- 集成电路-电磁兼容-测试
- 学科主题:
- 集成电路-电磁兼容-系统建模
- 中图法分类号:
- TN402
- 一般附注:
- 装备科技译著出版基金
- 题名责任附注:
- 题名页题: 吴建飞, 李彬鸿, 王蒙军, 郑亦菲译
- 出版发行附注:
- 本书简体中文版由Presses universitaires du Midi (PUM) 授权国防工业出版社独家出版发行
- 相关题名附注:
- 英文题名原文取自版权页
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 本书涵盖了学习如何在发射、抗扰度和信号完整性问题上对电路及其周围环境 (PCB) 进行建模的基本概念, 提出了在IC级理解电磁问题的基本理论概念及建模特点。本书基于一款免费的仿真软件--IC-EMC, 该软件致力于集成电路的电磁兼容研究, 利用这款软件分析电磁问题的根本原因、预测EMC性能、优化验证可减轻EMC问题的有效方案。通过各种案例及IC-EMC软件的演示学习给出了详细的建模方法、测试方法以及仿真与测量结果分析, 有助于为读者建立起芯片电磁兼容设计的基本框架, 熟练运用所学的知识进行芯片电磁兼容的分析与设计。
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索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
TN402/032 | 91153510 | 采编部 | 在编 | 采编部 | |
TN402/032 | 91153511 | 采编部 | 在编 | 采编部 |
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