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MARC状态:订购 文献类型:中文图书 浏览次数:13

题名/责任者:
统计过程控制与评价:Cpk、SPC 和 PPM 技术/贾新章等编著
出版发行项:
北京:电子工业出版社,2004.8
ISBN及定价:
7-121-00204-3/CNY28.00
载体形态项:
页;16开
个人责任者:
贾新章 编著
中图法分类号:
TN
提要文摘附注:
本书是“电子元器件质量与可靠性技术”丛书之一,介绍如何对电子元器件生产过程进行统计质量控制,包括实施SPC技术、CPK技术和PPM技术的必要性、基本概念和方法,对元器件生产过程应用SPC技术和CPK技术时出现的特殊问题和解决办法,重点在于帮助读者掌握如何解决实际应用中的问题。
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