MARC状态：订购 文献类型：中文图书 浏览次数：13
- 题名/责任者:
- 统计过程控制与评价：Cpk、SPC 和 PPM 技术/贾新章等编著
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2004.8
- ISBN及定价:
- 7-121-00204-3/CNY28.00
- 载体形态项:
- 页;16开
- 个人责任者:
- 贾新章 编著
- 中图法分类号:
- TN
- 提要文摘附注:
- 本书是“电子元器件质量与可靠性技术”丛书之一，介绍如何对电子元器件生产过程进行统计质量控制，包括实施SPC技术、CPK技术和PPM技术的必要性、基本概念和方法，对元器件生产过程应用SPC技术和CPK技术时出现的特殊问题和解决办法，重点在于帮助读者掌握如何解决实际应用中的问题。
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