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题名/责任者:

纳米级集成电路系统电源完整性分析/(日) 桥本正德, (美) 拉杰·耐尔等著 戴澜, 陈铖颖, 张晓波译

出版发行项:

北京:机械工业出版社,2017

ISBN及定价:

978-7-111-56987-9/CNY125.00

载体形态项:

xv, 314页:图;24cm

统一题名:

Power integrity for nanoscale integrated systems

丛编项:

微电子与集成电路先进技术丛书

个人责任者:

桥本正德 著

个人责任者:

耐尔 (Nair, Raj) 著

个人次要责任者:

戴澜 译

个人次要责任者:

陈铖颖 译

个人次要责任者:

张晓波 译

学科主题:

集成电路-电路设计

中图法分类号:

TN402

出版发行附注:

本授权中文简体字翻译版由麦格劳-希尔 (亚洲) 教育出版公司和机械工业出版社合作出版

相关题名附注:

英文题名原文取自版权页

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

进入21世纪以来, 集成电路制造工艺的发展日新月异, 目前已经进入到了前所未有的纳米级阶段。电源完整性作为系统级芯片设计的重要课题, 直接影响到集成电路的可靠性、性能以及功耗。因此, 本书作者以系统级电源完整性为切入点, 深入探讨了电源完整性的影响、时钟产生及分布、输入/输出单元中的电源完整性设计、电源完整性建模、温度效应以及低功耗电源完整性设计等方面的问题, 并以IBM POWER7+处理器芯片作为实例进行分析, 最后针对新型碳纳米管互连元件在电源完整性中的应用做了简要讨论。

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