MARC状态：订购 文献类型：中文图书 浏览次数：17
- 题名/责任者:
- LabVIEW与天线测量技术/马玉丰 ... [等] 编著
- 出版发行项:
- 西安:西安电子科技大学出版社,2023.6
- ISBN及定价:
- 978-7-5606-6841-3/CNY49.00
- 载体形态项:
- 256页:图;26cm
- 丛编项:
- 天线测试技术丛书
- 个人责任者:
- 马玉丰 编著
- 个人责任者:
- 刘灵鸽 编著
- 个人责任者:
- 张启涛 编著
- 学科主题:
- 软件工具-程序设计
- 学科主题:
- 微波天线-测量技术
- 中图法分类号:
- TP311.561
- 中图法分类号:
- TN822
- 题名责任附注:
- 题名页题: 马玉丰, 刘灵鸽, 张启涛, 王宇编著
- 书目附注:
- 有书目 (第256页)
- 提要文摘附注:
- 本书共15章, 分为三篇。第1章至第10章为基础篇, 介绍了LabVIEW的基础知识, 包括认识LabVIEW, 启动界面、前面板与菜单, 数据格式, 循环与事件结构, 文件I/O, 画图与显示, MAX与仪器驱动、接口, VI显示设置与美化, 程序代码的保护, 生成可执行与安装程序。第11章、第12章为提高篇, 给出了天线测试系统采集软件与分析软件的源代码详细解析。第13章至第15章为高级篇, 介绍了天线测试系统集成相关知识。本书通过对这三篇内容的讲解, 可帮助读者了解天线测试参数与天线测试系统的组成、天线测试系统的工作原理、设计天线测试系统的关键知识, 这些都是天线测试系统集成与软件工程师的必备常识。
- 使用对象附注:
- 本书可作为高等学校天线测试、测量等专业的教材, 也可作为科研院所天线测试与天线测试系统集成工程师和对天线测试感兴趣的读者的学习参考书
全部MARC细节信息>>